姜传海，现担任中国物理学会X射线衍射专业委员、中国晶体学会粉末衍射专业委员、中国机械工程学会理化检验分会委员、中国仪器学会高速分析专业委员、全国残余应力专业委员及秘书长等。

    《X射线衍射技术及其应用》介绍了X射线衍射技术近年来的发展，介绍着重在实验技术和数据分析及某些应用三个方面。全书共13章，主要内容包括X射线物理学基础、X射线衍射方向、X射线强度、X射线衍射方法、多晶物相分析、晶体结构与点阵参数分析、应力测量与分析、衍射谱线形分析、多晶织构测量和单晶定向以及在薄膜和一维超点阵材料、聚合物高分子材料、纳米材料、介孔材料分析中的应用等。
    《X射线衍射技术及其应用》是材料科学与工程专业高年级本科生和研究生的教学用书，也可供相关专业的科技人员参考。

    20世纪20年代，康普顿（Compton）等发现了X射线非相干散射现象，称为康普顿散射。我国物理学家吴有训参加了大量实验工作，做出了卓越的贡献，故该项散射又称为康普顿一吴有训散射。1939年GLdnier。和Hosemann分别发展了X射线小角度散射理论。小角度散射就是在倒易点阵原点附近小区域内的漫散射效应，它只和分散在另一均匀物质中尺度为几到几十纳米的散射中心的形状、大小和分布状态有关，和散射中心内部的结构无关，因此是一种只反映置换无序而不反映位移无序的漫反射效应。1959年Kato和Lang发现了X射线的干涉现象，观察到干涉条纹。在此基础上，发展了X射线波在完整晶体中的干涉理论，可精确测定X射线波长、折射率、结构因数、消光距离及晶体点阵参数。
    X射线的分析方法主要是照相法和衍射仪法。劳厄等人在1912年创用的劳厄法，利用固定的单晶试样和准直的多色x射线束进行实验；Broglie于1913年首先应用的周转晶体法，利用旋转或回摆单晶试样和准直单色X射线束进行实验；德拜（Debye）、谢乐（Scherrer）和HuU在1916年首先使用粉末法，利用粉末多晶试样及准直单色X射线进行实验。在照相技术上做出重要贡献的有Seemann聚焦相机、带弯晶单色器的Guinier’相机及Straumanis不对称装片法。1928年Geiger与Miiller首先应用盖革计数器制成衍射仪，但效率均较低。现代衍射仪是在20世纪40年代中期按Friedman设计制成的，包括高压发生器、测角仪和辐射计数器等的联合装置，由于目前广泛应用电子计算机进行控制和数据处理，已达到全自动化的程度。

第1章 X射线物理学基础
1.1 X射线衍射分析发展简史
1.2 X射线本质及其波谱
1.2.1 X射线本质
1.2.2 X射线谱
1.3 X射线与物质相互作用
1.3.1 X射线散射
1.3.2 X射线真吸收
1.3.3 X射线衰减规律
1.3.4 X射线吸收效应的应用
1.4 X射线防护
练习题

第2章 X射线衍射方向
2.1 晶体几何学
2.1.1 晶体结构
2.1.2 晶体投影
2.1.3 倒易点阵
2.2 布拉格方程
2.2.1 布拉格方程
2.2.2 布拉格方程的讨论
2.2.3 倒易空间中的衍射条件
2.3 厄瓦尔德图解
2.3.1 厄瓦尔德图解
2.3.2 厄瓦尔德图解示例
练习题

第3章 X射线衍射强度
3.1 单个晶胞散射强度
3.1.1 单个电子散射强度
3.1.2 单个原子散射强度
3.1.3 单个晶胞散射强度
3.2 单个理想小晶体散射强度
3.2.1 干涉函数
3.2.2 衍射畴
3.3 实际多晶体衍射强度
3.3.1 实际小晶粒积分衍射强度
3.3.2 实际多晶体衍射强度
3.3.3 多晶体衍射强度计算方法
练习题

第4章 X射线衍射方法
4.1 照相法
4.1.1 德拜一谢乐法
4.1.2 聚焦法
4.1.3 『孔法
4.2 衍射仪法
4.2.1 测角仪
4.2.2 计数器
4.2.3 单色器
4.3 测量条件
4.3.1 试样要求
4.3.2 影响测量结果的因素
4.3.3 测量条件示例
练习题

第5章 多晶物相分析
5.1 标准卡片及其索引
5.1.1 卡片介绍
5.1.2 索引方法
5.2 定性物相分析
5.2.1 手工检索
5.2.2 计算机检索
5.2.3 其他问题
5.3 定量物相分析
5.3.1 基本原理
5.3.2 分析方法
5.3.3 其他问题
练习题

第6章 晶体结构与点阵参数分析
6.1 晶体结构识别
6.1.1 基本原理
6.1.2 立方晶系指标化
6.1.3 其他问题
6.2 点阵参数测定
6.2.1 德拜法误差来源
6.2.2 衍射仪法误差来源
6.2.3 消除系统误差方法
6.3 晶体结构模型分析
6.3.1 原理与方法
6.3.2 其他问题
练习题

第7章 应力测量与分析
7.1 测量原理
7.1.1 内应力分类
7.1.2 测量原理
7.2 测量方法
7.2.1 测量方式
7.2.2 试样要求
7.2.3 测量参数
7.3 数据处理方法
7.3.1 衍射峰形处理
7.3.2 定峰方法
7.3.3 误差分析
7.4 三维应力及薄膜应力测量
7.4.1 三维应力测量
7.4.2 薄膜应力测量
练习题

第8章 衍射谱线形分析
8.1 谱线宽化效应及卷积关系
8.1.1 几何宽化效应
8.1.2 物理宽化效应
8.1.3 谱线卷积关系
8.2 谱线宽化效应分离
8.2.1 强度校正与K。双线分离
8.2.2 几何宽化与物理宽化的分离
8.2.3 细晶宽化与显微畸变宽化的分离
8.3 非晶材料X射线分析
8.3.1 径向分布函数
8.3.2 结晶度计算
8.4 小角X射线散射分析
8.4.1 基本原理
8.4.2 吉尼叶公式及应用
练习题

第9章 多晶织构测量和单晶定向
9.1 多晶体织构测量
9.1.1 织构分类
9.1.2 极图及其测量
9.1.3 反极图及其测量
9.1.4 三维取向分布函数
9.2 单晶定向
9.2.1 单晶劳厄相的特点
9.2.2 单晶定向方法
练习题

第10章 薄膜和一维超点阵材料的X射线分析
10.1 薄膜分析中常用的X射线方法
10.1.1 低角度X射线散射和衍射
10.1.2 掠入射X射线衍射
10.1.3 粉末衍射仪和薄膜衍射仪
10.1.4 双晶衍射仪和多重晶衍射仪
10.1.5 其他方法
10.2 原子尺度薄膜的研究
……
第11章 聚合物和高分子材料的X射线分析
第12章 纳米材料的X射线分析
第13章 介也材料的X射线分析
附录
参考文献