第一章 绪论<br>1.1 光电子成像技术的意义和作用<br>1.1.1 神奇的人眼视觉及其局限性<br>1.1.2 光电子成像系统的物理功能及技术特点<br>1.1.3 光电子成像系统构成、工作原理及工作模式<br>1.1.4 光电子成像器件和显示器件一般原理<br>1.2 光电子成像技术基本科学问题探讨<br>1.2.1 “成像”一词的来源<br>1.2.2 现代光电子成像技术的数理含义<br>1.2.3 现代光电子成像技术基本科学问题诠释<br>1.3 本书的编著思路和技术特点<br>第二章 辐射源、目标及大气特性<br>2.1 引言<br>2.2 辐射源电磁波谱<br>2.3 辐射源特性及其度量<br>2.3.1 辐射源特性<br>2.3.2 辐射度量<br>2.4 辐射源分类<br>2.5 绝对黑体及其基本定律<br>2.5.1 绝对黑体与灰体<br>2.5.2 黑体辐射基本定律<br>2.6 常见的辐射源<br>2.7 激光器原理及其应用<br>2.7.1 激光器x_-f乍原理<br>2.7.2 激光器技术特点<br>2.7.3 激光器在光电子成像技术中的应用<br>2.8 辐射能在大气中的传播<br>2.8.1 辐射能在大气中传播的一般规律<br>2.8.2 水平能见度和消光指数<br>2.9 典型目标的辐射和反射特性<br>2.9.1 典型目标的辐射特性<br>2.9.2 典型目标的反射特性<br>2.9.3 水下光学吸收(透射)特性<br>第三章 固体光电子成像器件<br>3.1 引言<br>3.2 固体光电子成像器件分类及性能<br>3.2.1 固体光电子成像器件分类<br>3.2.2 固体光电子成像器件性能参数<br>3.3 红外探测成像器件<br>3.3.1 概述<br>3.3.2 红外成像器件原理结构<br>3.4 CCD、CMOS成像器件系列<br>3.4.1 概述<br>3.4.2 (2CI)典型结构和工作原理<br>3.4.3 (2M()S成像器件典型结构和工作原理<br>3.4.4 EMCD典型结构和工作原理<br>3.4.5 1CCD典型结构和工作原理<br>3.4.6 EBCD典型结构和工作原理<br>3.5 短波辐射固体成像器件<br>3.5.1 概述<br>3.5.2 固体紫外(日盲)探测成像器件<br>3.5.3 固体X线探测成像器件<br>3.5.4 固体7线探测成像器件<br>3.5.5 EB——MAMA多阳极阵列探测成像器件<br>第四章 真空光电子成像器件<br>4.1 引言<br>4.2 真空光电子成像器件技术发展动态<br>4.3 真空光电子成像功能部件物理基础<br>4.3.1 半导体外光电效应和光阴极<br>4.3.2 光电倍增管和微通道板电子倍增原理<br>4.3.3 光纤光学成像元件<br>4.3.4 电致发光显示器件——荧光屏<br>4.3.5 电子光学透镜成像原理<br>4.4 真空光电子成像器件原理、功能和结构<br>4.4.1 真空光电子成像器件工作原理<br>4.4.2 真空光电子成像器件四大功能<br>4.4.3 真空光电子成像器件典型结构<br>4.5 真空光电子成像器件特性参数<br>4.5.1 真空光电子成像器件特性参数分类<br>4.5.2 真空光电子成像器件特性参数<br>4.6 双近贴聚焦像像增强器(wII)极限性能估算<br>4.6.1 WII极限灵敏度估算<br>4.6.2 WII极限分辨率估算<br>4.6.3 WII极限信噪比估算<br>第五章 图像显示技术<br>第六章 光学成像系统和光学传递函数<br>第七章 光电子成像系统总体性能评价和分析<br>第八章 微光夜视技术<br>第九章 红外热成像技术<br>第十章 激光成像技术<br>第十一章 光电稳定与跟踪技术<br>第十二章 遥感光电子成像技术<br>第十三章 光电成像系统建模住址评估技术<br>第十四章 光子计数成像技术<br>参考文献
展开