本书系统介绍了高性能高分子材料的化学元素组成、链结构、分子量及聚集态结构和多种性能的标准化表征技术，提供高性能与功能化高分子材料表征技术的基本原理、测试方法、相关标准及应用案例。主要内容包括：化学元素组成分析及链结构表征，涉及有机元素分析、电感合等离子体原子发射光谱和质谱、原子吸收光谱、X射线荧光光谱、离子色谱、红外光谱、核磁共振波谱、拉曼光谱等；分子量及分子量分布表征，涉及凝胶渗透色谱、静态激光光散射、基质辅助激光解吸电离-飞行时间质谱等；聚集态结构表征，涉及偏光显微镜、电子显微镜、原子力显微镜、差示扫描量热、正电子没寿命谱、X射线衍射和散射等；基本物理特性表征，包括粒度、比表面积、孔径、密度等内容，涉及动态激光光散射、气体吸附和压汞技术等；宏观性能表征，包含热性能、力学性能、耐环境性能和光、电性能，涉及热重、导热、热膨胀和动态热机械分析，拉伸、压缩、弯曲、剪切、剥离、撕裂等力学试验，老化试验、生物降解试验和热裂解气相色谱质谱分析、高分子材料全生命周期评价中老化降解产物收集与分析，以及紫外-可见分光光谱、荧光光谱、四探针测试、矢量网络分析等；前沿表征技术，涉及原子力-红外联用、同步辐射和中子散射等。 本书可供高分子材料科学与工程专业本科生、硕士生、博士生及从事高性能高分子材料合成与加工、研究和生产方面的专家、学者和工程技术人员参考。

第1章 绪论
1.1 高性能高分子材料定义
1.2 高性能高分子材料结构与表征内容
1.2.1 高分子的结构特点
1.2.2 高性能高分子的表征内容
1.3 不同领域高性能高分子材料的表征技术特点
1.3.1 电子电气和光电领域
1.3.2 民生安全健康领域
1.3.3 航天航空与国防军工领域
1.4 高性能高分子材料表征技术发展趋势
1.4.1 多尺度表征技术相互结合
1.4.2 计算机模拟技术日益重要
1.4.3 多种表征手段的联合应用
1.5 高性能高分子材料表征技术的挑战与发展需求
1.5.1 表征技术专一适用性有待加强
1.5.2 检测方法亟需标准化
参考文献
第2章 元素组成分析
2.1 有机元素分析仪法
2.1.1 有机元素分析仪分析原理
2.1.2 相关标准
2.1.3 有机元素分析仪在高性能高分子材料研究中的应用
2.2 电感耦合等离子体原子发射光谱仪法
2.2.1 ICP-AES分析原理
2.2.2 ICP-AES测定方法
2.2.3 ICP-AES在高性能高分子材料研究中的应用
2.3 电感耦合等离子体质谱法
2.3.1 ICP-MS分析原理
2.3.2 ICP-MS在高性能高分子材料研究中的应用
2.4 原子吸收光谱法
2.4.1 AAS原理
2.4.2 AAS测定方法
2.5 原子荧光光谱
2.5.1 AFS原理
2.5.2 AFS测定方法
2.6 X射线荧光光谱法
2.6.1 XRF原理
2.6.2 XRF测定方法
2.6.3 相关标准
2.6.4 XRF在高性能高分子材料研究中的应用
2.7 离子色谱法
2.7.1 IC原理
2.7.2 IC测定方法
2.7.3 相关标准
2.7.4 IC在高性能高分子材料研究中的应用
参考文献
第3章 链结构表征
3.1 红外光谱法
3.1.1 红外光谱法实验原理
3.1.2 基团红外吸收频率及其影响因素
3.1.3 高性能高分子材料红外吸收谱图解析
3.1.4 相关标准
3.1.5 红外光谱法在高性能高分子材料链结构分析中的应用
3.2 核磁共振波谱法
3.2.1 核磁共振波谱法原理
3.2.2 高性能高分子材料核磁的特点
3.2.3 核磁共振氢谱解析
3.2.4 核磁共振碳谱解析
3.2.5 适用于链结构分析的其他原子核磁共振图谱和分析方法
3.2.6 相关标准
3.2.7 实例分析
3.3 拉曼光谱法
3.3.1 拉曼光谱法实验原理
3.3.2 拉曼光谱谱图解析
3.3.3 相关标准
3.3.4 实例分析
3.4 质谱法
3.4.1 质谱法实验原理
3.4.2 色谱-质谱联用分析有机化合物
3.4.3 相关标准
3.4.4 实例分析
参考文献
第4章 分子量及分子量分布表征
4.1 凝胶渗透色谱法
4.1.1 凝胶渗透色谱技术原理
4.1.2 影响GPC分析的关键实验条件
4.1.3 高性能高分子材料GPC分析的样品处理
4.1.4 分子量测试相关标准
4.1.5 GPC在高性能高分子材料分子量表征中的应用
4.2 乌氏黏度计法
4.2.1 乌氏黏度计实验方法原理
4.2.2 黏度法测分子量相关标准
4.2.3 乌氏黏度计法应用实例
4.3 基质辅助激光解吸电离-飞行时间质谱法
4.3.1 MALDI-TOF-MS的发展
4.3.2 MALDI-TOF-MS方法原理
4.3.3 MALDI-TOF-MS在高性能高分子材料分析测试中的应用
参考文献
第5章 聚集态结构表征
5.1 偏光显微镜法
5.1.1 偏光显微镜的测量原理
5.1.2 偏光显微镜的测试方法
5.1.3 偏光显微镜Polscope测量原理
5.1.4 偏光显微镜应用实例
5.2 扫描电子显微镜法
5.2.1 SEM结构及工作原理
5.2.2 SEM的常用概念和基本原理
5.2.3 SEM的分类和拓展功能
5.2.4 相关标准
5.2.5 SEM应用实例分析
5.3 透射电子显微镜法
5.3.1 TEM的结构及工作原理
5.3.2 TEM的关键参数
5.3.3 TEM的制样
5.3.4 TEM的应用实例分析
5.4 原子力显微镜法
5.4.1 AFM的结构与工作原理
5.4.2 AFM纳米力学图谱
5.4.3 AFM的应用实例分析
5.5 差示扫描量热法
5.5.1 DSC的工作原理与类型
5.5.2 经典DSC热谱图解析
5.5.3 DSC的应用实例分析
5.6 正电子湮没寿命谱法
5.6.1 PALS方法原理
5.6.2 PALS数据分析
5.6.3 PALS的应用实例分析
5.7 小角X射线散射法
5.7.1 SAXS方法原理
5.7.2 SAXS数据分析
5.7.3 SAXS的应用实例分析
5.8 广角X射线衍射法
5.8.1 WAXD方法原理
5.8.2 WAXD数据分析
5.8.3 相关标准
5.8.4 实例分析
参考文献
第6章 基本物理特性表征
6.1 动态光散射法粒度分析
6.1.1 DLS的工作原理
6.1.2 DLS的仪器结构及注意事项
6.1.3 DLS相关标准
6.1.4 DLS在高分子表征中的应用
6.2 比表面积及孔结构分析
6.2.1 气体吸附法
6.2.2 吸附等温线的分类和