《X射线荧光光谱的基本参数法》是X射线荧光光谱分析领域专门讲述基本参数法的第一本书。书中，作者结合自己的研究成果和实践经验，系统而详细地介绍了X射线荧光光谱分析中的基本参数法的基本原理、方法中用到的各种基本参数、理论荧光强度计算、散射对理论荧光强度的影响、多层膜样品中荧光强度计算的问题、基本参数法的实现和应用实例，书末还列出了重要的基本参数。<br>    本书可供从事X射线荧光光谱研究与实际分析的科研和技术人员阅读，也可作为X射线荧光光谱分析或相关专业教师和研究生的参考读物。

    第1章<br>    x射线荧光光谱分析概述<br>    1.1 引  言<br>    X射线荧光光谱（X-ray Fluorescence Spectroscopy，XRF）分析是一种用于化学元素定性和定量分析的仪器分析方法。XRF可用于各类样品中主量major）、次量（minor）和痕量（trace）元素的分析。目前，XRF可分析的元素范围是4Be～9U，对常规的波长色散和能量色散XRF仪器，可分析浓度范围9／g～100，且可直接分析固体和液体试样，甚至可以进行非破坏分析、现场分析、在线分析、原位分析，因而在冶金、地质、化工、建材、石油、微电子、环保、食品、现代农业、考古、文物鉴定和保护、科学考察等领域都有广泛的应用，甚至在外太空探索中（如应用于火星探测器）也用到了和X射线荧光光谱分析相关的技术。正因为如此，从1948年Friedmen和Birks建造第一台现代商XRF仪器至今的60年问，无论是XRF仪器的制造技术，还是XRF分析应用技术都取得了巨大进步。据估计，现在全世界在运行的各类XRF仪器多达数万台。相对简便，甚至全自动化的操作以及对环境要求不高，使其在工业领域应用非常普遍。例如，一个现代化的大型钢铁厂，就可能装备多达数十台XRF仪器。而相对较低的价格和较强的功能，使其成为性能价格比最好的分析仪器之一。<br>    ……

第1章 x射线荧光光谱分析概述<br>1．1 引言<br>1．2 x射线光谱<br>1．2．1 X射线的定义<br>1 2．2 X射线的性质<br>1．2．3 X射线光谱的产生<br>1．3 X射线与物质的相互作用<br>1．3．1  吸收系数<br>1．3．2  衰减系数<br>1．3．3  吸收截面<br>1．3．4  吸收系数和波长的关系<br>1．3．5  散射<br>1．4  布拉格定律<br>1．5 俄歇效应和荧光产额<br>1．6 X射线荧光光谱仪<br>1．7 X射线荧光光谱定性分析<br>1．8 X射线荧光光谱定量分析<br>1．8．1 定量分析概述<br>1．8．2 基体效应<br>1．8．3 元素间吸收一增强效应<br>1．8．4 校正曲线法<br>1．8．5 内标法<br>……