《宇航元器件应用验证系统工程》是针对我国宇航元器件应用验证技术和方法的研究成果及工程实践进行系统介绍的著作。著作依据作者多年研究而建立的应用验证技术体系和工程管理方法分为 3 卷,共 13 章。本书为第三卷宇航元器件应用验证工程实践,共 2 章,主要介绍 15 个典型元器件应用验证工程实践案例和航天卫星工程应用验证实践。 本书可供从事宇航元器件研发、质量保证和应用的技术人员和管理工作者参考,也适合作为元器件应用验证培训教材及相关专业学生学习的参考书。

第 12 章 典型元器件应用验证工程实践
12.1 新型抗辐射 LW 系列低压差线性稳压器应用验证工程实践
12.2 抗辐射低噪声高精度运算放大器应用验证工程实践
12.3 抗辐射大容量 NORFLASH 存储器应用验证工程实践
12.4 抗辐射 RS-422 通信接口电路应用验证工程实践
12.5 抗辐射功率 MOSFET 应用验证工程实践
12.6 抗辐射加固微处理器应用验证工程实践
12.7 抗辐射 PROM 存储器应用验证工程实践
12.8 抗辐射 SRAM 型 FPGA 应用验证工程实践
12.9 高可靠熔断器应用验证工程实践
12.10 宇航用高密度低频矩形电连接器应用验证工程实践
12.11 宇航用特种电容器应用验证工程实践
12.12 宇航用 AFB 系列高性能射频同轴电缆应用验证工程实践
12.13 箭载 SoC 应用验证工程实践
12.14 宇航用 SMP 型射频同轴连接器应用验证工程实践
12.15 宇航用红外焦平面探测器组件应用验证工程实践
第 13 章 航天卫星工程应用验证实践
13.1 概述
13.2 工作目标和技术路线
13.3 项目实施
13.4 应用验证实施情况
13.5 工作成果和创新性
13.6 应用验证关键技术突破
参考文献