被动型半入侵式攻击的目标通常是在无需利用或者探测储存单元的数据读取电路的情况下,读取出储存元件中的内容,文献[ssAQ02]公开发表了一种成功的此类攻击。<br> 主动型半入侵式攻击的目标是诱发设备产生故障,这项工作可以通过使用x射线、电磁场或者光学手段等来完成,例如,文献[sA031中发表了关于通过光学手段实施故障诱发攻击的描述。<br> 通常,半入侵式攻击不需要使用实施入侵式攻击所需要的那样昂贵的设备,然而其成本仍然相对高昂,特别地,在现代芯片的表面,选择一个实施半入侵式攻击的正确部位就需要花费一些时间,同时也需要一定的专业知识,关于半入侵式攻击最全面的已公开文献可参见Skorobogatov的博士论文(Sko05),非入侵式攻击非入侵式攻击中,被攻击的密码设备本质上和其正常工作时的状态没有任何区别,也就是说,这种攻击仅仅利用了设备上可被直接访问的接口,设备自身永远不会发生改变,因而实施这种攻击之后不会遗留下任何痕迹,大多数非入侵式攻击都可以借助于价格相对低廉的设备来实施,因此,这类攻击对密码设备的安全性造成了严重的实际威胁,<br> 特别地,近几年来,被动型非入侵式攻击受到了极大的关注,这种攻击通常也称为“侧信道攻击”(side-channelattacks,SCA),其中,最重要的侧信道攻击有三类:计时攻击(Koc96)、能量分析攻击(KJJ99)以及电磁攻击(GM001,Qs01)。<br> 除了侧信道攻击之外,还存在主动型非入侵式攻击,这类攻击的目标是在无需拆解设备的情况下诱发设备产生故障,例如,可以通过时钟突变、电压突变或者改变环境温度等手段来诱发密码设备产生故障,关于这类攻击的综述,可查阅文献(BEcN+04)。<br> ……
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