Michael Pecht,是香港城市大学电子工程系的客座教授,电子工程硕士,美国威斯康星大学麦迪逊分校机械工程的硕士和博士。现为专业工程师、IEEE会士(IEEE Fellow)、ASME会士(ASME Fellow)和IMAPS会士(IMAPS Fellow)。2008年,获得可靠性领域的最高奖项——IEEE可靠性协会终生成就奖。曾任IEEE Transactions Dn ReliabilitJy主编八年,IEEE Spec打咨询顾问。现为MicroelectronicsReliability的主编,IEEE Transactions 0n Components and Packaging Technology副主编。美国马里兰大学学院园分校高级生命周期工程研究中心(Center for Advanced Life Cycle Engineering,CALCE)创始人;机械工程系George Dieter 首席教授、应用数学系教授。已编写关于电子产品开发、使用和供应链管理等方面的书籍20余本,发表学术论文400余篇。在过去的十年中,他领导的科研小组一直致力于可靠性诊断的研究。他们已经为100多家生产电子产品的跨国企业提供了咨询,为这些企业的电子产品和系统的策略制定、设计、试验、诊断分析、知识产权、风险评估等方面提供了专家意见和技术支持。因对可靠性研究的杰出贡献,获得欧洲微纳米可靠性奖;因对电子封装的研究,获3M研究奖;因对电子产品可靠性分析的贡献,获IMAP(国际微电子和包装协会)William D.Ashman成就纪念奖。
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