《X射线衍射技术及设备》介绍了晶体学和X射线衍射基本原理，现代衍射仪设备及实验技术，国内外厂家新近生产的衍射仪产品，以及常用X射线衍射方法等。编写时力求介绍国内外新的技术、方法、设备及其发展，也着眼于X射线衍射技术的实际应用与推广、普及。
    《X射线衍射技术及设备》除适合于X射线衍射技术应用工作者使用外，还适合于金属物理、金属学、材料、冶金、机械、地质、矿物、陶瓷、建材、化工、汽车、纺织、铁路、硅酸盐、环保、药物、耐火材料、高分子材料、考古、电子陶瓷等专业有关工程、科技人员和大专院校有关专业师生参考。

    2.9 衍射仪的选购、实验室注意事项及安全防护
    2.9.1 衍射仪的选购
    购买设备实际是购买能满足用户需求的某类功能，厂家出售的是能实现这类功能的设备。人们总是选购物美价廉、结实耐用、售后服务优良的产品。产品从购买、使用到若干年后，由于技术进步，完成同样功能的新产品出现，旧设备因精度低、效果差、无附件维修而停止使用，这种寿命周期叫经济寿命周期，寿命周期常指此类。在满足使用的前提下，仪器设备在整个寿命周期中总费用（购买费用与使用维修费用之和）越低越好。因此，在购买x射线衍射仪设备前，可先考虑以下几点。首先是考虑所需的功能和档次，经费不足可不购买近期或可预见的将来用不上的多余功能附件或过高档次的最新产品，这可降低购买费用。其次是充分比较各家产品的优缺点及其价格，最好是到已拥有这类设备的单位就其性能和使用以及售后服务情况进行考察。选购物美价廉和售后服务好的产品。第三是考虑本身维修能力和厂家售后服务的及时性及收费高低等因素。一些设备功能齐全、技术先进、自动化程度高，但如果维修不及时，因自动化带来的效率提高将被抵消。或因维修费太高而难以承受。第四是考虑总费用（包括购买、使用、维修等费用）与所购买的功能之比是否合适。第五是一家专用还是多家共用更有利于提高设备利用率。第六，仔细比较几个厂家的产品，再作出抉择。只要在购买前对上述各方面作过详细调查，就会作出正确选择。签订合同时，应把所购买的东西包括一切软件、硬件、备件、软硬件使用说明书、线路图、故障诊断程序、语言编译程序、数据库等，以及软硬件技术指标、交货期、安装调试内容、费用等等，不厌其详地一一明确无误地载明在合同上。不要使用模棱两可的语言，更不能凭口头承诺。购买设备后应选派仪器使用（既懂计算机软硬件知识，又懂X射线衍射技术的）和仪器维修两方面的人员接受培训。培训内容应事先商定，最好以书面形式肯定下来。否则容易事倍功半或流于形式。
    培训最好在设备交货安装、调试之前进行（也可在安装调试之后，在熟悉、使用仪器一段时间之后进行）。熟悉和掌握说明书及有关资料，精心使用和维护好仪器。使用人员和维修人员均应掌握机会参加有关的学习班和学术交流会或用户协会等。

1 X射线衍射基本原理
1.1 衍射计算中常用的晶体学表示方法
1.1.1 晶体、晶轴及晶面指数
1.1.2 倒易矢量及倒易点阵
1.1.3 反射球
1.1.4 晶系
1.1.5 晶体的对称性
1.1.6 点群
1.1.7 布拉维点阵
1.1.8 空间群
1.1.9 晶面间距的计算
1.1.10 晶带
1.2 原子对X射线的散射
1.2.1 单个自由电子对X射线的散射
1.2.2 n个电子的散射及复数计算法
1.2.3 一个原子的X射线的散射
1.3 小晶体的散射
1.3.1 小晶体的散射强度
1.3.2 三个劳厄方程式
1.3.3 布拉格衍射的结构因子
1.3.4 热振动对小晶体散射强度的影响
1.4 衍射线的积分强度
1.4.1 小单晶体衍射的积分强度
1.4.2 面积稍大的不完整晶体的积分强度
1.4.3 粉末样品衍射的积分强度
参考文献

2 现代X射线衍射仪系统及实验技术
2.1 概述
2.2 X射线源——种类及性能要求
2.2.1 X射线源的稳定性
2.2.2 X射线源的强度
2.2.3 光谱纯净度及单色性
2.2.4 X射线源的适用性
2.3 测角仪
2.3.1 测角仪结构及布拉格一布伦塔诺聚焦原理
2.3.2 狭缝系统及几何光学
2.3.3 测角仪的调整
2.4 探测器与记录系统
2.4.1 正比计数器
2.4.2 位置灵敏计数器
2.4.3 平面位敏计数器
2.4.4 闪烁计数器
2.4.5 Si(Li)半导体固态探测器
2.4.6 前置放大器和主放大器及脉冲成形器
2.4.7 单道脉冲分析器
2.4.8 多道脉冲分析器
2.4.9 定标器
2.4.10 速率计
2.4.11 探测器扫测方式及参数
2.4.12 X射线衍射能量色散测量
2.5 衍射仪的自动化
2.5.1 高压和管流的控制
2.5.2 测角仪自动调整，试样和狭缝的自动变换
2.5.3 自动测量、数据收集和处理
2.5.4 各种衍射应用程序和数据库
2.5.5 故障诊断的现代化
2.6 衍射仪考核检定及验收
2.6.1 衍射仪综合稳定度
2.6.2 高压及管流稳定度
2.6.3 测角仪测角准确度、重复精度及仪器分辨率
2.6.4 探测器的相对半高宽
2.6.5 计算机硬件
2.6.6 计算机软件和应用衍射软件
2.6.7 各种衍射仪附件
2.6.8 其它有关装置和附件
2.7 实验测量技术
2.7.1 实验参数的选择及其对粉末衍射花样的影响
2.7.2 强度、峰位、线形的测量
2.8 国内外一些厂家X射线衍射仪产品软、硬件简介
2.8.1 北京大学仪器厂产品BDX系列X射线衍射仪产品简介
2.8.2 德国布鲁克(BRUKER)AXS公司X射线衍射仪产品简介
2.8.3 荷兰飞利浦(Philips)公司X射线衍射仪产品简介
2.8.4 日本理学公司X射线衍射仪产品简介
2.9 衍射仪的选购、实验室注意事项及安全防护
2.9.1 衍射仪的选购
2.9.2 实验室注意事项
2.9.3 X射线安全防护
参考文献

3 定性相分析
3.1 引言
3.2 定性相分析的理论基础
3.3 粉末衍射文件PDF
3.3.1 粉末衍射文件(PDF)卡片的新老格式
3.4 JCPDS粉末衍射文件数据的磁盘、磁带及光盘
3.5 索引和检索手册
3.5.1 哈纳瓦特数值索引
3.5.2 芬克数值索引
3.5.3 字母索引
3.5.4 其他索引
3.6 定性相分析的一般步骤
3.6.1 制样
3.6.2 测量d和I值
3.6.3 手工检索未知相的PDF卡片
3.6.4 定性相分析的计算机自动检索
参考文献

4 定量相分析
4.1 引言
4.2 基本原理
4.3 外标法
4.3.1 各相为同素异构的多晶型物相组成的待测试样
4.3.2 待测试样中各相的质量吸收系数不同
4.4 内标法
4.5 基体冲洗法(K值法)
4.5.1 原理
4.5.2 K值的转换
4.5.3 K值法国家标准
4.6 绝热法
4.6.1 原理
4.6.2 Kij值的求法
4.6.3 绝热法的优缺点
4.7 直接比较法
4.7.1 原理
4.7.2 应用——残余奥氏体和钢材表层氧化铁体积分数的测定
4.7.3 Ri值的计算
4.8 无标法
4.8.1 原理
4.8.2 无标法的优缺点
4.9 国内定量相分析方法研究成果简介
4.9.1 联立方程法
4.9.2 普适无标法
4.9.3.回归求解法
4.9.4 最优化计算法
参考文献

5 线形分析方法
5.1 线形宽化分析的积分宽度法
5.2 Kα1及Kα2双重线的分离
5.3 线形近似函数的选择
5.4 从B。值求物理宽度β值
5.5 从β值进行亚晶细化宽度m及点阵畸变宽度n的分离
5.5.1 亚晶细化与线形宽化效应的关系——谢乐公式
5.5.2 点阵畸变与其宽化效应的关系
5.5.3 β与m及n的关系式
5.5.4 亚晶细化与点阵畸变宽化效应的图解分离法
5.5.5 伏格脱函数法
5.6 积分宽度法中的测算误差问题
5.6.1 谱线宽度测量对于物理宽度β的影响
5.6.2 M1及N1分离中的误差
5.6.3 实验条件的讨论
5.7 线形宽化分析的傅氏级数法
5.7.1 实测线形的傅氏级数展开法
5.7.2 粉末样品的衍射本领表达式
5.7.3 形变金属衍射谱线宽化傅氏级数分析法
5.8 傅氏级数法中亚晶细化与点阵畸变宽化的分离
5.8.1 傅氏系数的分离
5.8.2 Asn系数的诠释
5.8.3 “弯钩”效应问题
5.9 方差分析法
5.9.1 谱线方差的测定
5.9.2 亚晶细化引起的方差
5.9.3 点阵畸变引起的方差
……
6 曾错率及位错分布的测定
7 结构的测定
8 晶粒取向分布函数分析方法
9 宏观应力的测定
10 晶体点阵常数的精确测定
11 晶体定向
12 织构测定技术的应用举例
参考文献