米本和也，1959年出生于东京都。1984年早稻田大学研究生院理工学研究科硕士课程结业，同年进入索尼公司，就职于厚木工厂半导体事业本部CCD事业部从事CCD图像传感器，CMOS图像传感器研发工作。2001年担任三星电子System LSI事业部CCD开发责任研究委员（常务）、2002年早稻大学研究生院理工学研究科博士课程毕业，获工学博士，2003年进入松下电器产业株式会社，现在就职于松下半导体事业总部图像传感器商业单元开发组。

    CCD图像传感器和CMOS图像传感器，最初主要应用于数字照相机和数字摄像机等，但近几年以惊人的速度广泛应用于手机、个人计算机及PDA等小型装置。<br>    《CCD、CMOS图像传感器基础与应用》从CCD图像传感器的基本工作原理出发，利用丰富的插图，简明易懂地介绍CCD图像传感器的各种构造及工作方式，各种特性和应用技术等。另外，也对随着片上系统的研发成功在广泛领域期待应用的CMOS图像传感器，如特征与技术、片上系统等进行详细介绍。<br>    本书可供图像传感器相关领域的工程技术人员，研发和设计人员，以及大专院校相关专业的师生参考学习。

第1章  图像传感器的历史——从摄影元件的诞生到<br>CCD／CMOS图像传感器<br>1.1图像传感器的登场<br>1.2固态图像传感器<br>1.3 CCD图像传感器的实用化<br>1.4 CMOs图像传感器<br>参考文献<br><br>第2章  何谓图像传感器——基于光电转换与扫描的摄影基本概念<br>2.1基本概念<br>2.1.1受光<br>2.1.2信号的读出<br>2.1.3图像信号的传输<br>2.1.4光电转换与扫描<br>2.2图像传感器的很多种类<br>2.2.1光电转换的材料<br>2.2.2扫描方式<br>2.2.3像素为无源还是有源<br>2.3超过预期的多用途与未来的梦想<br>2.3.1用于任何场所<br>2.3.2特殊用途<br>参考文献<br><br>第3章  CCD图像传感器的基础——从光电转换到信号<br>输出的方式与特征<br>3.1动作原理<br>3.1.1光电转换<br>3.1.2电荷的储存<br>3.1.3电荷的转移（CCD的原理）<br>3.1.4电荷的检测<br>3.2转移方式与扫描方式<br>3.2.1帧转移方式<br>3.2.2行间转移方式<br>3.2.3帧行间转移方式<br>3.2.4扫描方式与读出转移动作<br>3.2.5其他转移方式<br>3.3像素的构造与动作<br>参考文献<br><br>第4章  CCD图像传感器的特性——感光度、动态范围<br>及分辨率等<br>4.1必须强调的基本特性<br>4.1.1感光度<br>4.1.2动态范围（饱和信号量）<br>4.1.3分辨率<br>4.1.4漏光<br>4.1.5残像<br>4.1.6光谱感光度<br>4.2无法避免的噪声<br>4.2.1随机噪声<br>4.2.2固定图形噪声<br>4.2.3噪声的评估<br>参考文献<br><br>第5章  CCD图像传感器的应用技术——从静止图像到彩色视频<br>5.1动作方式与送出的信号<br>5.1.1端子构成举例<br>5.1.2驱动时序与信号输出<br>5.1.3信号输出的全貌<br>5.2特有功能与特殊的摄影方式<br>5.2.1电子快门<br>5.2.2手震校正<br>5.2.3快门校正<br>5.2.4广动态范围摄影<br>5.2.5高速摄影<br>5.3数字照相机CCD图像传感器的差异<br>5.3.1两种CCD图像传感器<br>5.3.2动作时序<br>5.4信号的处理方式<br>5.4.1黑白照相机系统与信号处理<br>5.4.2单板式彩色CCD图像传感器与信号处理<br>5.4.3数字照相机的信号处理<br>5.4.4制  图<br>参考文献<br><br>第6章  CMOS图像传感器的特征与技术——从基础到<br>解决固定图形噪声<br>6.1 CMOS图像传感器的特征——与CCD图像像传感<br>器的比较<br>6.1.1构造与动作方式的差异<br>6.1.2制造过程与片上系统<br>6.1.3特性与电源<br>6.1.4储存的同时性<br>6.1.5混  色<br>6.2解决固定图形噪声的问题<br>6.2.1固定图形噪声的产生原因<br>6.2.2各种像素构造<br>6.2.3抑制固定图形噪声的方法<br>参考文献<br><br>第7章  片上系统——片上照相机、图像处理到嵌入功能的技术<br>7.1片上照相机<br>7.1.1片上照相机的构成<br>7.1.2片上系统的理想状态<br>7.2再现图像以外的功能<br>7.2.1边缘检测<br>7.2.2图形匹配<br>7.2.3分辨率可变与注视<br>7.3广动态范围摄影<br>7.3.1双道采样<br>7.3.2对数转换<br>7.3.3储存电容调制方式<br>7.3.4像素内A／D转换器+多次采样<br>7.3.5像素内模拟处理方式<br>7.4图像处理<br>7.4.1感应式图像传感器<br>7.4.2模拟二维DCT图像压缩<br>7.4.3空间滤光片<br>7.5三维传感<br>7.5.1三角测量<br>7.5.2光强度判定<br>7.5.3光路差<br>7.6其他功能<br>7.6.1动态检测<br>7.6.2全面曝光<br>7.6.3色彩分离光电二极管<br>7.6.4 Foveated Image Sensor<br>参考文献<br>附录A  光电元件相关的基础知识<br>A.1 P型硅和N型硅<br>A.2泊松（Poisson）方程式——电流密度方程式、电流连续方程式<br>A.3光学尺寸与有效视场角对角长<br>A.4光强度与感光度<br>A.4.1光强度定义<br>A.4.2各种基准之间的关系<br>A.4.3色温<br>A.4.4量子效率与感光度<br>A.4.5数字照相机的感光度<br>A.4.6红外截止滤光片的光谱透过率<br>A.5基于像素开口采样的MTF与混淆<br>A.6 KTC噪声（复位噪声）的噪声电压<br>A.7 CDS电路的滤波器特性<br>A.8采样&保持（Sample&Hold）电路与阈值偏差<br>A.9二维离散余弦变换与一维转换的关系<br>A.10物理常数<br>参考文献<br>专业术语解释