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出版时间 :
金属材料的辐照损伤
0.00     定价 ¥ 88.00
图书来源: 浙江图书馆(由浙江新华配书)
此书还可采购15本,持证读者免费借回家
  • 配送范围:
    浙江省内
  • ISBN:
    9787312062704
  • 作      者:
    作者:万发荣|责编:韩笑
  • 出 版 社 :
    中国科学技术大学出版社
  • 出版日期:
    2025-06-01
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内容介绍
本书系统地介绍了金属结构材料辐照损伤的产生原理、分析方法,以及聚变反应堆对金属材料的设计与建造要求等,同时对我国辐照损伤研究的未来发展作出了展望。主要内容包括:有关辐照损伤研究的历史、背景和现状;从晶体学结构角度介绍了与辐照损伤有关的晶体缺陷的基础知识;辐照损伤分析的基本概念和初步理论;辐照对金属材料的结构乃至物性造成的影响;从核反应堆工程角度介绍了各种堆型结构材料中存在的主要的辐照损伤问题;材料辐照损伤与材料选择;电子辐照、离子辐照、中子辐照损伤的实验研究方法;晶体缺陷的主要表征方法。 本书可供磁约束核聚变、核裂变研究专业人士,等离子体及相关专业的研究生阅读参考。
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目录
前言
第1章 绪论
1.1 材料辐照效应的分类
1.2 辐照损伤研究的历史
1.3 辐照损伤研究的现状与意义
第2章 辐照损伤与晶体缺陷
2.1 点缺陷的形态与表征参数
2.2 点缺陷的迁移与扩散
2.3 点缺陷的产生
2.4 点缺陷与线缺陷
2.5 刃型位错与螺型位错
2.6 层错与位错环
2.7 层错四面体
2.8 空洞
2.9 晶体缺陷之间的相互作用
2.9.1 缺陷反应
2.9.2 同类点缺陷的相互作用
2.9.3 点缺陷与位错的相互作用
2.10 自间隙原子团簇的一维迁移
第3章 辐照过程分析的初步理论
3.1 辐照损伤分析的基本概念
3.1.1 辐照过程的碰撞问题
3.1.2 坐标系选择
3.1.3 散射截面
3.1.4 碰撞参数
3.2 辐照损伤计算的有关函数
3.3 各种辐照的散射截面
3.3.1 刚性球散射
3.3.2 卢瑟福散射
3.3.3 电子散射
3.3.4 γ射线散射
3.4 初级击出过程
3.4.1 中子辐照引起的初级击出
3.4.2 离子辐照引起的初级击出
3.4.3 入射电子引起的初级击出
3.5 级联过程
3.5.1 离子化阈能
3.5.2 击出损伤函数的K-P模型与NRT模型
3.5.3 辐照损伤量的估算
3.5.4 级联过程的特点
3.6 离子辐照的能量损失过程
3.6.1 原子核能量损失过程和电子能量损失过程
3.6.2 高能离子的电子能量损失过程
3.6.3 高能离子的原子核能量损失过程
3.6.4 低能离子的电子能量损失过程
3.6.5 低能离子的原子核能量损失过程
3.7 投影射程与辐照损伤分布
3.7.1 射程估算
3.7.2 E-DEP-1程序
3.7.3 TRIM程序
3.7.4 SRIM程序
3.8 晶体材料辐照中的某些特殊效应
3.8.1 离子沟道效应
3.8.2 聚焦碰撞效应
3.8.3 击出能量阈值的各向异性
3.9 点缺陷浓度变化的速率理论
第4章 辐照损伤与金属材料
4.1 辐照损伤的回复
4.1.1 辐照损伤回复的五个阶段
4.1.2 氢、氦离子辐照损伤的回复
4.2 辐照肿胀
4.2.1 辐照肿胀的产生
4.2.2 关于辐照肿胀的速率理论
4.2.3 空洞起点阵
4.2.4 氢对辐照肿胀的影响
4.3 辐照下的扩散与析出
4.3.1 辐照对扩散的影响及辐照析出
4.3.2 辐照析出与相变
4.3.3 注氢合金中的辐照析出
4.4 辐照下的材料力学性能变化
4.4.1 辐照脆性
4.4.2 辐照蠕变
4.4.3 辐照硬化
4.4.4 辐照疲劳
4.4.5 辐照促进应力腐蚀
4.5 辐照下的核嬗变反应
4.5.1 (n,p)和(n,α)核嬗变反应
4.5.2 核嬗变反应与低活化合金设计
第5章 辐照损伤与核反应堆材料
5.1 核反应堆材料的使用环境
5.2 压水堆材料的辐照损伤
5.2.1 压水堆简介
5.2.2 压力容器材料
5.2.3 燃料包壳
5.3 快堆材料的辐照损伤
5.3.1 快堆简介
5.3.2 快堆堆芯材料
5.4 核聚变堆材料的辐照损伤
5.4.1 核聚变堆的构造与原理
5.4.2 第一壁材料
5.4.3 增殖包层
第6章 辐照损伤与材料选择
6.1 面心立方金属的辐照损伤
6.2 体心立方金属的辐照损伤
6.3 密排六方金属的辐照损伤
6.4 金属间化合物的辐照损伤
6.5 氧化物弥散强化材料的辐照损伤
第7章 辐照损伤的实验研究方法
7.1 电子辐照与超高压电子显微镜
7.2 利用电子束辐照方法测定空位迁移能
7.3 利用低压电镜的电子束辐照研究位错环的一维迁移
7.4 离子辐照与离子加速器
7.5 中子辐照与材料实验反应堆
第8章 晶体缺陷的主要表征方法
8.1 透射电子显微镜
8.2 电阻测量法
8.3 正电子湮灭
8.4 场离子显微镜
8.5 内耗法
8.6 X射线漫散射
后记
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