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文献来源:
出版时间 :
X射线粉末衍射技术--测量与分析基础
0.00     定价 ¥ 58.00
图书来源: 浙江图书馆(由浙江新华配书)
此书还可采购25本,持证读者免费借回家
  • 配送范围:
    浙江省内
  • ISBN:
    9787122457202
  • 作      者:
    编者:王春建|责编:葛瑞祎
  • 出 版 社 :
    化学工业出版社
  • 出版日期:
    2024-08-01
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内容介绍
本书内容主要分为五部分:X射线粉末衍射技术的发展历程和功能应用;X射线衍射仪器、光路配置、样品制备和测量过程;物相分析的基本原理、分析过程、注意事项、结果评价和部分实例;X射线衍射仪器的维护保养和辐射安全;X射线衍射技术的学习方法论。 本书着重介绍衍射图谱的产生过程和各类影响因素,以及与物相分析功能的相关性。在测量技术方面,详细介绍了衍射仪中各类光路元器件的工作原理和参数设置,并对测量过程的每个环节进行了详细论述。在物相分析方面,针对最常用的物相鉴定功能开展了鉴定原理、鉴定方法、鉴定技巧、数据库应用等方面的详细论述,并为鉴定结果的可信度提出评估方法和依据;针对物相定量分析、微结构分析等深层次功能,由浅入深地介绍了数学原理的推导、功能发展的历程,以及部分案例的应用,并且论证了分析方法的简化过程等内容。最后对衍射仪的维护保养、X射线辐射安全等方面进行了详细介绍,并对X射线衍射技术的学习方法和技巧进行了深入讨论,总结性指出了技术能力晋升的途径。 本书可作为相关专业本科生、研究生的教学用书,也可作为从事X射线衍射测量和物相分析工作的技术人员的参考书。
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目录
第1章 晶体与X射线衍射现象
1.1 晶体与非晶体
1.2 晶体的X射线衍射现象
1.3 X射线衍射现象的发现
1.4 X射线衍射现象的意义
1.5 X射线物相分析依据
1.6 X射线粉末衍射仪
小结
第2章 X射线粉末衍射功能与应用
2.1 物相鉴定
2.2 物相定量
2.3 结晶度分析
2.4 晶胞参数分析
2.5 固溶度分析
2.6 纳米晶粒尺寸与微观应变分析
2.7 残余应力分析
2.8 择优取向与织构分析
小结
第3章 X射线衍射仪与测量光路
3.1 衍射仪基本组成
3.2 衍射光路组成
3.3 X射线管
3.4 几何测角仪
3.5 探测器
3.6 光学元器件
3.6.1 索拉狭缝
3.6.2 发散狭缝、防散射狭缝、接收狭缝
3.6.3 滤光装置
3.6.4 其他光学元器件
3.7 常用样品台
3.7.1 平板样品台
3.7.2 自动进样器
3.7.3 微区样品台
3.7.4 多轴样品台
3.7.5 高温样品台
第4章 测量与参数
4.1 测量程序与参数
4.2 仪器参数
4.3 狭缝参数
4.4 样品制备参数
4.5 测量范围
4.6 测量速率
4.7 测量步长
4.8 测量模式
4.9 测量时间
4.10 薄膜掠入射参数
4.11 高温衍射参数
第5章 样品制备技术
5.1 样品制备影响因素
5.2 样品制备方法
5.3 粉末样品的粒度控制
5.4 自制标样
5.5 实例分析
第6章 物相定性分析
6.1 物相定义
6.2 PDF卡片与数据库
6.3 检索软件
6.3.1 软件定性检索原理
6.3.2 软件定性检索步骤
6.3.3 软件定性检索方法
6.4 物相定性分析判断依据
6.5 注意事项与常用技巧
第7章 物相定性结果评估
7.1 测量质量评估
7.2 数据平滑处理
7.3 本底与Kα2扣除
7.4 伪峰识别
7.5 定性分析影响因素
7.6 定性分析学习方法
7.7 常见问题实例
小结
第8章 物相定量分析
8.1 物相定量方法概述
8.2 参比强度法
8.3 公式类比与准确度
8.3.1 公式类比
8.3.2 定量准确度
8.4 参比强度法的限制与扩展
8.5 全谱拟合结构精修法
8.5.1 历史发展
8.5.2 Rietveld精修原理
8.5.3 Rietveld物相定量原理
8.6 Rietveld精修法定量实例
8.6.1 测量图谱和晶体文件输入
8.6.2 晶体基本参数编辑
8.6.3 拟合参数编辑
8.6.4 计算图谱与深度编辑
8.6.5 全谱拟合与定量
8.6.6 结果输出
第9章 衍射线形分析
9.1 衍射线形
9.2 纳米晶粒引起的半高宽
9.3 微观应变引起的半高宽
9.4 两种效应引起的综合半高宽
9.5 衍射线形与结晶度
9.6 拟合分峰处理
9.6.1 背景标定
9.6.2 拟合分峰
9.7 结晶度的计算方法
第10章 晶胞参数精密分析
10.1 晶胞参数简介
10.2 晶胞参数的计算方法
10.3 计算偏差的来源
10.4 计算偏差的控制
10.4.1 机械校正
10.4.2 测量方法校正
10.4.3 外推函数法校正
10.5 寻峰偏差
10.6 “线对法”计算晶胞参数
第11章 仪器维护与辐射安全
11.1 硬件维护
11.1.1 X射线管的日常维护
11.1.2 水冷系统的日常维护
11.1.3 测角仪的日常维护
11.1.4 样品台的日常维护
11.2 光路校准
11.2.1 单色器
11.2.2 测角仪零点
11.2.3 “切光法”光路校准
11.3 其他维护
11.4 X射线的电离辐射
11.5 电离辐射安全防护
第12章 学习方法论
12.1 常见概念与分类
12.1.1 散射与衍射
12.1.2 布拉格角与衍射角
12.1.3 物相分析与结构解析
12.1.4 理论学习与实践分析
12.2 衍射测量经验谈
12.2.1 关于X射线衍射仪
12.2.2 关于应用光路
12.2.3 关于数据分析软件
12.3 学习历程分享
12.4 六级阶梯
参考文献
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