第1章 绪论
1.1 HCI碰撞产生内壳层电离过程的X射线辐射机制
1.2 HCI碰撞产生X射线的研究意义
1.3 研究背景
第2章 X射线辐射测量的方法
2.1 实验测量装置
2.1.1 离子束的产生与传输
2.1.2 X射线辐射测量
2.1.3 入射离子的计数
2.2 X射线发射截面的实验测量
2.2.1 产额测量方法
2.2.2 截面计算方法
2.2.3 误差分析
2.3 X射线产生截面的理论计算
2.3.1 内壳层直接电离的基本理论
2.3.2 荧光产额的选取
第3章 近玻尔速度HCI多电离态的产生
3.1 入射离子多电离态的产生
3.1.1 Ar11+的电离和中性化过程
3.1.2 Ar的L壳层多电离态的产生
3.1.3 Ar的K壳层X射线的发射截面
3.2 初始电荷态对入射离子多电离态的影响
3.2.1 Arq+的K壳层X射线辐射能的移动
3.2.2 Kβ与Kα相对强度比的变化
3.3 靶原子序数对入射离子多电离态的影响
3.3.1 X射线辐射的频移和分支强度比的变化
3.3.2 靶与入射离子之间X射线辐射的能损分配
3.4 本章小结
第4章 多电离态对入射离子L壳层X射线辐射的影响
4.1 电荷态效应
4.1.1 I的L壳层X射线的辐射
4.1.2 I的外壳层的多电离态
4.1.3 多电离对I的L壳层X射线相对强度比的影响
4.2 靶原子序数效应
4.2.1 Xe的L壳层X射线的辐射
4.2.2 Xe的L壳层X射线的频移
4.2.3 Xe的L壳层X射线相对强度比随靶原子序数的变化
4.3 本章小结
第5章 近玻尔速度HCI碰撞产生靶原子的多电离
5.1 靶原子多电离对K壳层X射线辐射的影响
5.2 靶原子K壳层X射线的发射截面
5.3 实验截面与理论计算结果的比较
5.4 本章小结
第6章 质子碰撞产生的多电离
6.1 质子碰撞产生多电离现象
6.1.1 Nd的Lγ2 X射线的辐射增强
6.1.2 质子引起Nd外壳层的多电离
6.1.3 Nd的L壳层X射线的发射截面
6.2 质子碰撞产生多电离的入射能依存关系
6.2.1 Cd、In的Lγ X射线的辐射
6.2.2 质子诱导Cd、In原子N、O壳层的多电离
6.2.3 Cd、In的L壳层X射线的发射截面
6.3 本章小结
第7章 总结
7.1 本书的主要结论
7.2 结束语
参考文献
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