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文献来源:
出版时间 :
先进集成电路电磁兼容测试与建模(精)
0.00     定价 ¥ 128.00
图书来源: 浙江图书馆(由浙江新华配书)
此书还可采购25本,持证读者免费借回家
  • 配送范围:
    浙江省内
  • ISBN:
    9787118126075
  • 作      者:
    作者:(法)亚历山大·博耶//艾·西加|责编:穆丽丽|译者:吴建飞//李彬鸿//王蒙军//郑亦菲
  • 出 版 社 :
    国防工业出版社
  • 出版日期:
    2022-10-01
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内容介绍
本书涵盖了学习如何在发射、抗扰度和信号完整性问题上对电路及其周围环境(PCB)进行建模的基本概念,提出了在IC级理解电磁问题的基本理论概念及建模特点。 本书基于一款免费的仿真软件——IC-EMC,该软件致力于集成电路的电磁兼容研究,利用这款软件分析电磁问题的根本原因、预测EMC性能、优化验证可减轻EMC问题的有效方案。通过各种案例及IC-EMC软件的演示学习给出了详细的建模方法、测试方法以及仿真与测量结果分析,有助于为读者建立起芯片电磁兼容设计的基本框架,熟练运用所学的知识进行芯片电磁兼容的分析与设计。 本书适用于电子设计专业的本科生、研究生以及已熟悉EMC基本概念且希望学习更多关于IC EMC知识的工程师。
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目录
第1章 综述 第2章 IC的世界 第3章 IC-EMC概念 第4章 EMC问题及概述 第5章 无源设备的建模 第6章 PCB互连的建模 第7章 EMC测量 第8章 IC发射的标准测量方法 第9章 IC敏感度的标准测量方法 第10章 IC封装和接口 第11章 IC发射建模 第12章 IC敏感度建模
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