凯文·哈丁（Kevin Harding）是纽约尼斯卡尤纳通用电气研究公司（GE Re-search）的首席科学家。他在科学技术研究和开发中心（R & D）担任光学测量工作的领导，为光学技术项目提供指导。在加入通用电气公司之前，他在工业技术研究所担任了14年的光电实验室主任，建立了光电业务，参与了200多个项目，开发出一批（六种）商业产品。
他在光学技术领域工作了25余年，并发起和主持了技术会议及讲习班，包括在机器视觉光学和照明方向讲授课程15年。因其在3D测量技术方面的专长而获得国际认可，他的工作也得到了许多组织的认可。他曾于1989年获得制造工程师学会（SME）杰出青年工程师奖、1990年获得底特律工程学会（ESD）公共服务电子化领导奖、1994年获得自动化成像协会领导奖和1997年获得SME Eli Whitney生产力奖。
哈丁发表技术论文120余篇，面向工业界和学术界讲授短期课程、辅导课程，以及光学测量视频课程60余门，为6本专著撰写了部分章节，获发明专利55余项。哈丁曾担任协会主席、社会委员会主席和会议主席20余年，与国际光学和光子学学会（SPIE）、美国激光研究所（LIA）、ESD、SME和美国光学学会（OSA）长期合作，曾任2008年SPIE的主席，目前是SPIE的研究员。

本书涵盖了光学测量技术的方方面面，包括光学测量技术的发展机遇与挑战、传统光学测量技术以及对未来光学测量技术的展望。首先概述光电测量技术；然后分别针对大尺寸零件、中等尺寸零件以及微小尺寸零件的测量介绍相应的激光跟踪技术、位移干涉测量技术、相移技术、便携式测量技术以及基于干涉的显微技术、基于聚焦的光学测量技术；最后，介绍先进光学显微测量技术及其应用。 本书可作为从事光学测量技术工程师的入门书，也可作为光学工程专业的本科生、研究生和教师的参考书。由于本书中的各个章节之间相对独立，针对特定知识的阅读，只需要阅读相应的章节即可。

第1篇 光学测量技术
第1章 光学测量技术概述
1.1 概述
1.1.1 探测器技术论证
1.2 探测器技术
1.2.1 探测器技术的基本概念
1.3 过程控制探测器
1.3.1 机器视觉探测器概述
1.4 3D探测器概述
1.4.1 3D技术的讨论
1.4.2 点三角测量法
1.4.3 线三角测量法
1.4.4 面积三角测量法和莫尔测量法
1.4.5 激光探头的应用现状
1.5 误差分析
1.5.1 接触式探头误差
1.5.2 设备轴线误差
1.5.3 非接触式探头误差
1.5.4 3D探头误差
1.5.5 测量基准误差
1.6 总结和展望
参考文献
第2章 基于机器视觉的测量
2.1 机器视觉技术
2.2 搭建机器视觉
2.3 机器视觉照明
2.4 机器视觉中的光学成像
2.5 光学性能
2.5.1 透镜
2.5.2 窗口
2.5.3 反射镜
2.5.4 面形质量
2.6 滤光片
2.6.1 干涉滤光片
2.6.2 彩色玻璃滤镜
2.7 薄膜
2.7.1 增透膜
2.7.2 反射膜
2.7.3 孔径
2.8 棱镜
2.8.1 恒偏向棱镜
2.8.2 旋转图像棱镜
2.9 光学测试元件
2.9.1 反射面
2.9.2 漫反射面
2.9.3 定向反射/投射面
2.9.4 余弦图
2.10 光学系统的设计
2.11 相机
2.12 机器视觉软件
2.13 应用
2.14 小结与展望
2.14.1 小结
2.14.2 展望
参考文献
第2篇 大尺寸物体的光学测量
第3章 激光跟踪系统
3.1 概述
……
第3篇 中等尺寸物体的光学测量
第4篇 小尺寸物体的光学显微测量
第5篇 先进光学显微测量方法