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先进集成电路电磁兼容测试与建模
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￥ 128.00
图书来源: 浙江图书馆(由JD配书)
此书还可采购15本，持证读者免费借回家
配送范围:
浙江省内
ISBN：
9787118126075
作 者：
亚历山大•博耶，艾•西加
译 者：
吴建飞，李彬鸿，王蒙军，郑亦菲
出 版 社 ：
国防工业出版社
出版日期：
2022-10-01
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第1章 综述 第2章 IC的世界 第3章 IC-EMC概念 第4章 EMC问题及概述 第5章 无源设备的建模 第6章 PCB互连的建模 第7章 EMC测量 第8章 IC发射的标准测量方法 第9章 IC敏感度的标准测量方法 第10章 IC封装和接口 第11章 IC发射建模 第12章 IC敏感度建模
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