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文献来源:
出版时间 :
质量的简约——兼议汽车电子技术规范
0.00     定价 ¥ 95.00
图书来源: 浙江图书馆(由JD配书)
此书还可采购25本,持证读者免费借回家
  • 配送范围:
    浙江省内
  • ISBN:
    9787563834921
  • 作      者:
    李京苑
  • 出 版 社 :
    首都经济贸易大学出版社
  • 出版日期:
    2023-09-01
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作者简介

本书主编李京苑,曾任中国运载火箭技术研究院院长助理、总质量师,出版过《基于失效模式的电子元器件质量控制》、《几何量常用测量方法》、《统计过程控制与评价——CPK、SPC和PPM技术》等作品。

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目录

目录




1?从原理出发——质量管理体系的价值及其构建方式 1

1.1?引言 2

1.2?质量管理体系的构建 5

1.3?向华为学习大质量观 13

1.4?向SpaceX学习系统工程的创新 22

1.5?行业质量管理体系标准的具体化 26


2?标准的具象——IATF 16949汽车质量体系标准 37

2.1?引言 38

2.2?汽车质量标准体系的特点 41

2.3?与国家军用质量管理体系标准的比较 44

2.4?IATF 16949标准的可借鉴之处 49


3?面向应用——AEC元器件技术规范概要 65

3.1?AEC及其技术规范 66

3.2?技术支撑规范 68

3.3?产品技术规范 71

3.4?AEC技术规范的编制思路 74

3.5?其他相关汽车技术规范 88

3.6?小结 90


4?核心——基于任务剖面和失效模式的鉴定 101

4.1?流程 102

4.2?任务剖面的因素 109

4.3?基于任务剖面和失效模式的火箭元器件质量保证 117


5?核心——基于统计技术的一致性和稳定性评价 123

5.1?基于统计技术的一致性和可靠性评估 125

5.2?一致性评价方法 129

5.3?批次性质量的评价方法 134

5.4?产品特性评估方法 136


6?核心——基于零缺陷的质量保证方法 149

6.1?零缺陷管理框架 150

6.2?零缺陷管理框架的应用 156

6.3?零缺陷设计方法 162

6.4?零缺陷制造方法 165

6.5?零缺陷测试方法 167

6.6?零缺陷应用方法 170

6.7?零缺陷改进方法 171

6.8?问题解决方法 172

6.9?小结 173

7?比较——单芯片半导体器件 175

7.1?基本要求 177

7.2?鉴定试验对比 181

7.3?小结 188


8?比较——二次集成电路 203

8.1?适用范围 204

8.2?等级 207

8.3?鉴定试验选项 209

8.4?通用数据 212

8.5?试验样品 213

8.6?鉴定和再鉴定 214

8.7?鉴定试验 216

8.8?小结 218


9?比较——元件 243

9.1?管理要求 244

9.2?技术要求 246

9.3?具体试验规范对比 253


参考文献 289


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