本书系统性地介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1～3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用，以及电子元器件的辐射效应；第4～6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试，以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真；第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。 本书适合辐射效应与加固技术相关专业高年级本科生和研究生使用，也可供相关工程技术人员和科研人员参考。

第l章 辐射环境
1.1 概述
1.2 人为辐射环境
1.3 大气辐射环境
1.4 空间辐射环境
1.5 其他辐射环境
1.6 本章小结
本章参考文献
第2章 辐射与物质的相互作用
2.1 概述
2.2 荷电粒子与靶物质的相互作用
2.3 光子与物质的相互作用
2.4 中子与靶物质的相互作用
2.5 物质的电离损伤和位移损伤
2.6 本章小结
本章参考文献
第3章 电子元器件的辐射效应
3.1 概述
3.2 材料的辐射效应
3.3 PN结和二极管、双极晶体管的辐射效应
3.4 SiO2/Si界面和场效应晶体管的辐射效应
3.5 双极工艺集成电路的辐射效应
3.6 CMOS集成电路的辐射效应
3.7 光电器件的辐射效应
3.8 其他元器件的辐射效应
3.9 本章小结
本章参考文献
第4章 多物理响应与多物理场作用
4.1 概述
4.2 多物理响应
4.3 多物理场作用
4.4 本章小结
本章参考文献
第5章 辐射效应的试验与测试
5.1 概述
5.2 辐射模拟源
5.3 剂量测量
5.4 宏观特性参数测量
5.5 微观特性参数测量
5.6 试验方法
5.7 本章小结
本章参考文献
第6章 辐射环境与辐射效应的计算与仿真
6.1 概述
6.2 计算与仿真工具
6.3 辐射感生缺陷建模与仿真
6.4 器件建模与仿真
6.5 电路建模与仿真
6.6 本章小结
本章参考文献
第7章 电子学系统抗辐射加固技术
7.1 概述
7.2 电子学系统
7.3 辐射环境指标分配
7.4 辐射屏蔽加固
7.5 元器件筛选和加固
7.6 电路硬件加固
7.7 系统程序加固
7.8 本章小结
本章参考文献
第8章 抗辐射性能评估
8.1 概述
8.2 辐射效应试验
8.3 辐射效应仿真
8.4 抗辐射性能评估
8.5 抗辐射加固保证
8.6 本章小结
本章参考文献
附录
附录A 常用化学和物理参数
附录B 材料、元器件的辐射效应数据
附录C 离子与材料的相互作用数据
附录D 光子与材料的相互作用数据
附录E 电子与材料的相互作用数据
附录F 中子与材料的相互作用数据
附录G 电子与光子射程比数据
缩略语索引
部分彩图