设计方法和工艺技术的革新使得集成电路的复杂度持续增加。现代集成电路（IC）的高复杂度和纳米尺度特征极易使其在制造过程中产生缺陷，同时也会引发性能和质量问题。本书包含了测试领域的许多常见问题，比如制程偏移、供电噪声、串扰、电阻性开路/电桥以及面向制造的设计（DfM）相关的规则违例等。本书也旨在讲述小延迟缺陷（SDD）的测试方法，由于SDD能够引起电路中的关键路径和非关键路径的瞬间时序失效，对其的研究和筛选测试方案的提出具有重大的意义。
本书分为4个部分：第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成（ATPG）；第2部分介绍全速测试，并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD；第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案，可以在ATPG和基于电路拓扑的解决方案之间进行折衷；第4部分介绍了SDD的测试标准，以量化的指标来评估SDD覆盖率。本书内容由简入深，对SDD测试全面展开，有助于提高读者的理解和掌握。
本书结合了高校科研人员、电子设计自动化（EDA）工具研发人员以及电路设计人员三方视角进行编写，是一部针对SDD测试进行多角度全方位分析的书籍。本书适合从事微电子领域芯片测试相关专业的工程师、微电子专业高校师生和研究人员以及对芯片测试领域感兴趣的读者阅读。对于当今工业设计、SDD测试领域的研究挑战以及当今SDD解决方案的发展方向，本书都可作为一站式参考书。
译者序
原书前言
关于主编
作者名单
第1章小延迟缺陷测试的基本原理
1.1简介
1.2半导体制造中的趋势和挑战
1.2.1制程复杂度
1.2.2工艺参数变化
1.2.3随机性与系统性缺陷
1.2.4功耗和时序优化的含义
1.2.5良率、质量和故障覆盖率的相互作用
1.3已有测试方法与更小几何尺寸的挑战
1.3.1连线固定型故障模型
1.3.2桥接型故障模型
1.3.3n检测
1.3.4过渡故障模型
1.3.5路径延迟故障模型
1.3.6测试实现和适应性测试
1.4小延迟对过渡测试的影响
参考文献
第1部分时序敏感ATPG
第2章K最长路径
2.1简介
2.2组合电路的路径生成
2.2.1精炼的隐含的假路径消除
2.3组合电路的实验结果
2.4扩展成时序电路的基于扫描的全速测试
2.5扫描电路的路径生成
2.5.1扫描式触发器上的含义
2.5.2非扫描式存储上的约束
2.5.3最终辩护
2.6扫描电路的实验结果
2.6.1健壮测试
2.6.2与过渡故障测试的对比
2.7小结
参考文献
第3章时序敏感ATPG
3.1简介
3.2延迟计算和质量度量
3.2.1延迟计算
3.2.2延迟测试质量度量
3.3确定性测试生成
3.3.1包含时序信息的测试生成
3.3.2包含时序信息的故障仿真
3.4测试质量和测试成本之间的折衷
3.4.1基于余量裕度的舍弃
3.4.2时序关键故障
3.5实验结果
参考文献
第2部分超速
第4章筛选小延迟缺陷的超速测试
4.1简介
4.2设计实现
4.3测试模式延迟分析
4.3.1在功能性速度下的动态电压降分析
4.3.2针对超速测试的动态电压降分析
4.4超速测试技术敏感的电压降
4.4.1模式分组
4.4.2性能降低ΔT′Gi的估算
4.5实验结果
4.6小结
4.7致谢
参考文献
第5章考虑版图、工艺偏差和串扰的电路路径分级
5.1简介
5.1.1SDD检测的商业方法
5.1.2SDD检测的学术建议
5.2分析因偏差引起的SDD
5.2.1工艺偏差对路径延迟的影响
5.2.2串扰对路径延迟的影响
5.3TDF模式评估与选择
5.3.1路径PDF分析
5.3.2模式选择
5.4实验结果与分析
5.4.1模式选择效率的分析
5.4.2模式集分析
5.4.3长路径阈值分析
5.4.4CPU运行时间分析
5.5小结
5.6致谢
参考文献
第3部分替 代 方 案
第6章基于输出偏差的SDD测试
6.1简介
6.2替代方案的必要性
6.3SDD的概率性延迟故障模型以及输出偏差
6.3.1输出偏差的方法
6.3.2对工业电路的实用层面以及适用性
6.3.3与基于SSTA的技术的比较
6.4仿真结果
6.4.1实验设置和标准
6.4.2仿真结果
6.4.3原始的方法与改进后的方法的比较
6.5小结
6.6致谢
参考文献
第7章小延迟缺陷的混合/补充测试模式生成方案
7.1简介
7.2时序敏感ATPG的故障集
7.3小延迟缺陷模式生成
7.3.1方法1：TDF+补充SDD
7.3.2方法2：补充SDD+补充TDF
7.4实验结果
7.5小结
参考文献
第8章针对小延迟缺陷的基于电路拓扑的测试模式生成
8.1简介
8.2基于电路拓扑的故障选择
8.3SDD模式生成
8.4实验结果与分析
8.4.1延迟测试覆盖率
8.4.2唯一长路径的数量
8.4.3最长路径的长度
8.4.4唯一SDD的数量
8.4.5随机故障注入与检测
8.5小结
参考文献
第4部分SDD的测量标准
第9章小延迟缺陷覆盖率的测量标准
9.1覆盖率测量标准的作用
9.2现有指标的概述
9.2.1延迟测试覆盖率指标
9.2.2统计型延迟质量等级指标
9.3所提出的SDD测试覆盖率指标
9.3.1二次SDD测试覆盖率指标
9.3.2超速测试
9.4实验结果
9.4.1对系统频率的敏感性
9.4.2对缺陷分布的敏感性
9.4.3时序敏感与超速的对比
9.5小结
参考文献
第10章总结
参考文献
