Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

第1章　Rietveld法结构精修
　1.1　Rietveld法结构精修发展概况
　1.2　Rietveld法基本原理
　1.3　参数修正顺序与结果判据
　　1.3.1　参数修正的顺序
　　1.3.2　精修的数值判据
　　1.3.3　精修的图示判断
　1.4　精修过程出现的问题和对策
　1.5　Rietveld法结构精修的应用
　　1.5.1　修正晶体结构
　　1.5.2　相变研究和点阵常数测定
　　1.5.3　物相定量分析
　　1.5.4　晶粒尺寸和微应变测定

第2章　EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍
　2.1　GSAS软件简介
　2.2　EXPGUI-GSAS软件的安装
　2.3　EXPGUI-GSAS软件界面介绍
　　2.3.1　菜单栏
　　2.3.2　选项卡界面
　　2.3.3　EXPGUI帮助内容

第3章　EXPGUI-GSAS结构精修起步
　3.1　精修前的准备工作
　　3.1.1　衍射数据的测定
　　3.1.2　衍射数据的转换
　　3.1.3　初始结构的获取
　3.2　EXPGUI精修简单示例
　　3.2.1　生成EXP文件
　　3.2.2　精修过程
　　3.2.3　常见问题
　3.3　精修结果提取与绘图
　　3.3.1　精修结果提取
　　3.3.2　精修图谱绘图

第4章　EXPGUI-GSAS提高练习
　4.1　仪器参数文件的建立
　　4.1.1　基本知识
　　4.1.2　操作过程
　4.2　物相（含非晶）定量分析
　　4.2.1　基本原理
　　4.2.2　衍射数据测试
　　4.2.3　精修过程
　4.3　Le Bail法拟合以及约束的使用
　　4.3.1　问题描述
　　4.3.2　精修过程

参考文献