前言
第1章 绪论
1.1 材料表征的意义和内容
1.2 材料微观结构表征的物理方法
第2章 材料表征的传统方法
2.1 透射电子显微术
2.1.1 概述
2.1.2 仪器和工作模式
2.1.3 图像衬度形成机制
2.1.4 选区电子衍射
2.1.5 试样制备技术
2.2 扫描电子显微术
2.2.1 概述
2.2.2 扫描电镜的成像原理和结构
2.2.3 高速电子流与固体物质的相互作用
2.2.4 结构细节、分辨率和衬度
2.2.5 图像衬度机制
2.2.6 试样准备
2.2.7 图像解释
2.2.8 应用实例
2.3 X射线衍射术
2.3.1 布拉格定律
2.3.2 单晶体衍射
2.3.3 多晶体衍射
2.3.4 X射线衍射术的最近进展
2.4 红外吸收光谱术
2.4.1 基本原理
2.4.2 分子的振动形式
2.4.3 红外光谱四要素
2.4.4 红外光谱术的应用
2.4.5 红外光谱新技术
2.5 材料的成分分析
2.5.1 特征X射线分析
2.5.2 背散射电子分析
2.5.3 俄歇电子分析
2.5.4 X射线光电子能谱分析
参考文献
第3章 同步辐射X射线术
3.1 引言
3.1.1 同步辐射光源的发生
3.1.2 同步辐射光源发展简史
3.1.3 同步辐射光源的构造
3.1.4 同步辐射光源的优点
3.1.5 同步辐射的应用概述
3.2 X射线吸收精细结构
3.2.1 XAFS简介
3.2.2 XAFS装置
3.2.3 XAFS实验方法和样品制备
3.2.4 XAFs的应用实例
3.3 同步辐射X射线衍射技术
3.3.1 SR-一XRD简介
3.3.2 同步辐射X射线单晶衍射技术
3.3.3 同步辐射X射线多晶衍射技术
3.3.4 应用实例
3.4 同步辐射小角x射线散射
3.4.1 SR一SAXS简介
3.4.2 SR一SAXS应用实例
3.5 同步辐射其他线站的新进展
3.5.1 同步辐射软X射线谱学显微光束线站
3.5.2 硬X射线微聚焦线站
3.5.3 生物大分子晶体学线站
参考文献
第4章 原子力显微术
4.1 原子力显微术的主要功能和适用领域
4.1.1 SPM、STM和AFM
4.1.2 AFM的主要功能
4.1.3 几种显微术的比较
4.2 基本原理和仪器学
4.2.1 仪器结构和成像原理
4.2.2 AFM探针
4.2.3 针尖
4.3 操作模式
4.4 成像模式
4.4.1 高度像
4.4.2 相位像
4.4.3 设定比rsp
4.4.4 偏差像
4.4.5 侧向力像
4.4.6 力调制模式像
4.4.7 力曲线和纳米力学图
4.5 试样准备
4.5.1 概述
4.5.2 切片术和表面切平术
4.5.3 断裂面术
4.5.4 大分子试样的准备
4.6 图像解释
4.6.1 针尖引起的伪迹
4.6.2 光学干涉条纹
4.6.3 热漂移
4.6.4 扫描器性能的影响
4.6.5 振动引起的伪迹
4.6.6 针尖力的影响
4.7 材料表征的AFM应用
4.7.1 聚合物材料
4.7.2 碳材料
4.7.3 复合材料
参考文献
第5章 激光拉曼光谱术
5.1 拉曼光谱术的适用范围
5.2 拉曼散射和拉曼光谱
5.2.1 拉曼散射和瑞利散射
5.2.2 拉曼峰的频移、强度、峰宽和偏振
5.2.3 温度和压力对拉曼峰的影响
5.2.4 定量分析和定性分析
5.3 仪器和主要技术
5.3.1 拉曼光谱仪
5.3.2 显微拉曼光谱术
5.3.3 纤维光学拉曼光谱术
5.3.4 增强拉曼光谱术
5.3.5 拉曼光谱的噪声及其减除
5.3.6 试样准备和安置
5.4 拉曼光谱术的应用
5.4.1 成分鉴别
5.4.2 聚合物的分子结构
5.4.3 结晶结构
5.4.4 取向结构
5.4.5 共混聚合物的相结构
5.4.6 界面微观结构
5.4.7 界面微观力学
参考文献
第6章 多方法联用术
6.1 概述
6.2 AFM与拉曼光谱术的联合
6.2.1 AFM与拉曼光谱术联合的功能
6.2.2 针尖增强拉曼光谱术
6.2.3 近场光学显微术
6.2.4 AFM／拉曼系统仪器学
6.3 SEM与拉曼光谱术的联合
6.4 红外光谱术与拉曼光谱术的联合
6.5 AFM与红外光谱术的联合和纳米红外光谱术
6.5.1 AFM与红外光谱术的联合
6.5.2 纳米红外光谱术
6.6 AFM与TEM的联合应用
6.6.1 AFlM和TEM的依次测试
6.6.2 AFlM与超薄切片机的联合
6.7 在线多技术联用
参考文献
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